檢測(cè)上述6種物質(zhì)的方法有兩種：一種是采用合適的混合酸進(jìn)行全消解，必要時(shí)對(duì)有機(jī)物進(jìn)行微波加溫加壓消解后，使用等離子體發(fā)射光譜儀/質(zhì)譜儀（ICP）、原子吸收光譜儀（AAS）、紫外分光光度計(jì)（UV-VIS）以及氣相色譜/質(zhì)譜聯(lián)用儀（GC-MS）等進(jìn)行定量分析，這種方法主要優(yōu)點(diǎn)是可對(duì)樣品進(jìn)行定量分析，缺點(diǎn)是制樣復(fù)雜且周期長(zhǎng)，樣品需要破壞，制樣要求高和設(shè)備投資大等。

另一種為熒光光譜分析法（XRF），其又可分為波長(zhǎng)散射（WD-XRF）和能量散射（ED-XRF）兩種。原理是通過X射線照射樣品，撞擊原子使外層電子產(chǎn)生能級(jí)遷躍，低能級(jí)電子獲得能量向高能級(jí)遷躍，并在原來的地方留下空位，而部分高能級(jí)的電子則填補(bǔ)到這些空位中。在填補(bǔ)的這個(gè)過程中，高能級(jí)的電子失去能量，這些能量以熒光X射線的方式釋放。根據(jù)原子不同以及發(fā)生的遷躍層（shell）不同，這些熒光X射線的能量也不一樣。檢測(cè)設(shè)備有一探測(cè)器，對(duì)這些熒光X射線粒子進(jìn)行收集。然后根據(jù)能量來判別元素的種類，根據(jù)收集到的粒子的強(qiáng)度來計(jì)算元素的含量。該方法有半定量分析和定量分析之分。半定量分析叫FP(Fundamental Parameter)方法，原理是*行定性分析，然后根據(jù)檢出的熒光X線強(qiáng)度以及元素的比率等理論計(jì)算各成分的含有量。定量分析一般采用檢量線法，首先對(duì)多個(gè)標(biāo)準(zhǔn)試料進(jìn)行測(cè)試，做成基準(zhǔn)的檢量線，然后測(cè)試實(shí)際的樣品，并和檢量線進(jìn)行比較，從而確定實(shí)際樣品中元素的含有量。

用熒光光譜分析法（XRF）檢測(cè)RoHS，主要特點(diǎn)是不需復(fù)雜的樣品前處理，可對(duì)金屬、樹脂、粉體、液體等任何形態(tài)的樣品進(jìn)行無損直接測(cè)定，能快速簡(jiǎn)單地測(cè)定鎘(Cd)、鉛(Pb)、汞(Hg)、總鉻(Cr)和總溴(Br)。檢測(cè)RoHS的主要依據(jù)是SJ/T11365-2006《電子電氣產(chǎn)品中有毒有害物質(zhì)的檢測(cè)方法》，用X射線熒光光譜儀對(duì)電子信息產(chǎn)品中有毒有害篩選的測(cè)試方法。

熒光光譜分析法（XRF）能夠檢測(cè)鉻，只是不能區(qū)別樣品中是有毒的六價(jià)鉻，還是三價(jià)鉻形態(tài)。如果樣品中總鉻含量低于限定范圍（≤700ppm），表明六價(jià)鉻較低(小于1000ppm)，如果不存在此狀況，就需要進(jìn)行有害性化學(xué)分析?？梢圆捎肧J/T11365-2006《電子電氣產(chǎn)品中有毒有害物質(zhì)的檢測(cè)方法》中比色法測(cè)試六價(jià)鉻，或采用分光光度法(UV-VIS)進(jìn)行定量分析。

一般樣品中含有的溴化物并不局限于PBB、PBDE 或是四溴雙酚這些物質(zhì)，自然界中存在的溴化物有幾百萬種，但是用熒光光譜分析法（XRF）進(jìn)行檢測(cè)無法分辨樣品中含有的是哪一種溴化物，只能判斷含有溴，因此熒光光譜分析法（XRF）的檢測(cè)結(jié)果是總溴的含量。同樣的規(guī)則，如果PBB和PBDE中的總溴含量低于限定值（≤300ppm）范圍的話，就可判定PBB和PBDE不超標(biāo)，否則可用氣相色譜/質(zhì)譜聯(lián)用儀（GC-MS）進(jìn)行定量分析。

用熒光光譜分析法（XRF）檢測(cè)RoHS，對(duì)檢測(cè)樣品的形狀大小有一定要求，面積應(yīng)大于2mm2，金屬樣品的厚度應(yīng)大于0.2mm，非金屬品的厚度應(yīng)大于2mm，樣品的形狀和大小對(duì)測(cè)試結(jié)果有很大影響。檢測(cè)表面光滑、材質(zhì)均一的樣品時(shí)，精度比較高，因此檢測(cè)中可適當(dāng)考慮改善樣品。因電子產(chǎn)品的成品和半成品由多種材料組成，首先必須進(jìn)行拆解，直至得到無法進(jìn)一步機(jī)械拆解的最小均質(zhì)材料檢測(cè)單元，并使其符合檢測(cè)要求。

測(cè)試時(shí)不能只看數(shù)據(jù)，同時(shí)還要看譜圖，因元素之間存在相互干擾。典型的干擾有銠、銻干擾鎘，溴、砷干擾鉛，As干擾PbLa ，Br干擾PbLb。尤其是在測(cè)試結(jié)果超出標(biāo)準(zhǔn)值時(shí)，一定要注意觀察譜線圖上被測(cè)元素是否受其他可能干擾元素的影響。

在使用熒光光譜分析法（XRF）作檢測(cè)時(shí)，需要注意的是，它只是用來做篩選的，而且只是測(cè)試樣品一定厚度的表層，這一結(jié)果不能和ICP等定量分析結(jié)果相比較。如果測(cè)試樣品是比較均質(zhì)的材質(zhì)，只要調(diào)整好其參數(shù)，用其來分析的無標(biāo)線結(jié)果也很不錯(cuò)，對(duì)于通過篩選測(cè)試的材料，可不再進(jìn)行確證測(cè)試，節(jié)省時(shí)間和成本。